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集成电路可测性设计技术
时间:2018-06-04 15:01    点击:   所属单位:机电工程学院
讲座名称 集成电路可测性设计技术
讲座时间 2018-06-06 20:00:00
讲座地点 北校区主楼三区327东第四会议室
讲座人 许川佩
讲座人介绍

许川佩,桂林电子科技大学 教授,博导,2006年获西安电子科技大学测试计量技术及仪器博士学位。是广西新世纪十百千第二层次人选,广西优秀专家。主要研究方向:自动测试系统与智能仪器、集成电路测试等。获广西科技进步二等奖4项、三等奖1项,中国船舶重工集团科技进步二等奖1项。主持的项目包括国家自然科学基金、国防预研、国防预研支撑、广西科技开发、广西自然科学基金等20余项。近年在国内外重要学术刊物上发表学术论文60余篇,其中SCI/EI检索20余篇。获发明专利2件,出版译著一部。

讲座内容

可测性设计技术的核心思想是将设计与测试工作协同进行,通过在系统、模块、芯片中适当增加用于测试的电路,提高电路的可控制性和可观察性,使不可测电路变得可测、难测电路变得易测,从而降低电路的测试难度和复杂性,提高电路的测试效率。主要内容:边界扫描技术 (IEEE 1149.X)、IP核可测性设计 (IEEE 1500)、内建自测试技术等,包括相应技术的测试思想、测试逻辑架构、板级或芯片级测试策略、测试矢量生成、测试控制器,以及可测性设计技术的应用实例等。

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